|
|
Dispersion studies for logistic problems
Dvořáček, Jan ; Šomplák, Radovan (referee) ; Pavlas, Martin (advisor)
Presented diploma thesis deals with the application of dispersion modelling of emissions from stationary sources of pollution as a potential tool which can be used for data preparation in reverse logistic models. In this case, the stationary source is represented by a waste-to-energy plant. The thesis consists of two main parts -- theoretical and computational. Firstly, emission sources and pollutants originating in thermal waste treatment are discussed. In the second chapter, legislation linked to the problem of air pollution is listed and the topics of current air quality in the Czech Republic and dispersion studies are outlined. Closing section of the theoretical part provides information about the principals of dispersion calculations and classification of dispersion models is given. In the computational part, the used dispersion software SYMOS'97 is introduced and the series of conducted calculations is presented. The calculations investigated the influence of plant capacity, dispersion conditions and terrain on the results. The input data of plant capacity and wind rose were indicated as key parameters in the calculation. The final evaluation revealed a good potential of the used dispersion model as a support tool in reverse logistic models.
|
|
|
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
Běhounek, Tomáš ; Spousta, Jiří (referee) ; Zicha,, Josef (referee) ; Kotačka, Libor (referee) ; Druckmüller, Miloslav (advisor)
V této práci je prezentována inovativní metoda zvaná \textit{Zobrazovací Reflektometrie}, která je založena na principu spektroskopické reflektometrie a je určena pro vyhodnocování optických vlastností tenkých vrstev .\ Spektrum odrazivosti je získáno z map intenzit zaznamenaných CCD kamerou. Každý záznam odpovídá předem nastavené vlnové délce a spektrum odrazivosti může být určeno ve zvoleném bodu nebo ve vybrané oblasti.\ Teoretický model odrazivosti se fituje na naměřená data pomocí Levenberg~-~Marquardtova algoritmu, jehož výsledky jsou optické vlastnosti vrstvy, jejich přesnost, a určení spolehlivosti dosažených výsledků pomocí analýzy citlivosti změn počátečních nastavení optimalizačního algoritmu.
|
|
|
Dispersion studies for logistic problems
Dvořáček, Jan ; Šomplák, Radovan (referee) ; Pavlas, Martin (advisor)
Presented diploma thesis deals with the application of dispersion modelling of emissions from stationary sources of pollution as a potential tool which can be used for data preparation in reverse logistic models. In this case, the stationary source is represented by a waste-to-energy plant. The thesis consists of two main parts -- theoretical and computational. Firstly, emission sources and pollutants originating in thermal waste treatment are discussed. In the second chapter, legislation linked to the problem of air pollution is listed and the topics of current air quality in the Czech Republic and dispersion studies are outlined. Closing section of the theoretical part provides information about the principals of dispersion calculations and classification of dispersion models is given. In the computational part, the used dispersion software SYMOS'97 is introduced and the series of conducted calculations is presented. The calculations investigated the influence of plant capacity, dispersion conditions and terrain on the results. The input data of plant capacity and wind rose were indicated as key parameters in the calculation. The final evaluation revealed a good potential of the used dispersion model as a support tool in reverse logistic models.
|
|
|
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
Běhounek, Tomáš ; Spousta, Jiří (referee) ; Zicha,, Josef (referee) ; Kotačka, Libor (referee) ; Druckmüller, Miloslav (advisor)
V této práci je prezentována inovativní metoda zvaná \textit{Zobrazovací Reflektometrie}, která je založena na principu spektroskopické reflektometrie a je určena pro vyhodnocování optických vlastností tenkých vrstev .\ Spektrum odrazivosti je získáno z map intenzit zaznamenaných CCD kamerou. Každý záznam odpovídá předem nastavené vlnové délce a spektrum odrazivosti může být určeno ve zvoleném bodu nebo ve vybrané oblasti.\ Teoretický model odrazivosti se fituje na naměřená data pomocí Levenberg~-~Marquardtova algoritmu, jehož výsledky jsou optické vlastnosti vrstvy, jejich přesnost, a určení spolehlivosti dosažených výsledků pomocí analýzy citlivosti změn počátečních nastavení optimalizačního algoritmu.
|
guest ::
